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电子产品高低温测试标准及流程

分类:公司新闻 发布时间:2021-07-07 12739次浏览

电子产品高低温测试标准及流程。在自然环境中,温度和湿度是不可分割的两个自然因素,...

电子产品高低温测试标准及流程。在自然环境中,温度和湿度是不可分割的两个自然因素,不同地区由于不同的地理位置,产生的温度、湿度效应也各不相同。高低温试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性,试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。

  高低温循环测试,是产品环境可靠性测试中的一项。基本上所有的产品都是在一定的温度环境下存储保存,或者工作运行。有些环境下的温度会不断变化,时高时低。比如在有些温差大的地区的白天黑夜。或者产品在运输、存储、运行过程中反复进出于高温区、低温区。这种高低温环境高温时可能会达到70°C度以上甚至更高,低温时温度可能会达到-20°C度以下甚至更低。

  电子产品高低温试验测试要求

  一般情况下,产品经温度试验后,若能满足下列基本要求,便认为产品符合高低温要求。

  (1)产品表面无损伤,变形等缺陷。若是涂镀表面,应没有镀层剥落、起泡或变色等现象。

  (2)对于塑料零件,其表面无裂纹、起泡和变形等现象。

  (3)橡胶制品无老化、粘结、软化和裂开等现象。

  (4)产品零件焊接部位无流淌现象。

  (5)产品性能数据及结构功能符合技术条件盼要求,不应出现妨碍产品正常工作的任何其他缺陷。

  电子产品高低温测试项目包括:

  1、低温测试,要求25±5℃,60±15%裸机,开机4h;

  2、高温测试,要求温度+55℃,试验4h;

  3、热冲击试验,裸机在关机的情况下,+85℃环境条件下45min,-40℃环境条件下试验45min,两温度的转换时间不大于15秒,进行27个循环,测试后放置至少两个小时后进行开机检测;

  4、温度循环测试,裸机关机,70℃测试1h,40℃测试1h,-40℃测试1h,每个循环为三个小时,共27个循环,测试后放置至少2个小时进行检测;

  5、高温高湿存贮试验,在裸机开机状态下,试验温度调为55℃,湿度93%RH,试验时间设置为72h,测试后放置2h进行功能、电性能、外观检测,再用普通透明胶带粘附键盘,每次持续时间1分钟,1分钟后在1秒内将键盘剥离胶带,共进行3次,检测键盘是否有漆层脱落、键盘脱落故障。

  电子产品高低温测试测试流程:

  1、在样品断电的状态下,先将温度下降到-50°C,保持4个小时;请勿在样品通电的状态下进行低温测试,非常重要,因为通电状态下,芯片本身就会产生+20°C以上温度,所以,在通电状态下,通常比较容易通过低温测试,必须先将其“冻透”,再次通电进行测试。

  2、开机,对样品进行性能测试,对比性能与常温相比是否正常。

  3、进行老化测试,观察是否有数据对比错误。

  4、升温到+90°C,保持4个小时,与低温测试相反,升温过程不断电,保持芯片内部的温度一直处于高温状态,4个小时后,执行2、3、4测试步骤。

  5、高温和低温测试分别重复10次。

  如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态,则视为测试失败。

  参考标准:

  GB/T2423.1-2008试验A:低温试验方法

  GB/T2423.2-2008试验B:高温试验方法

  GB/T2423.22-2002试验N:温度变化试验方法